CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)

产品名称: CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)
产品型号: CT200N/CT200F
产品展商: 创合科技
产品文档: 无相关文档

简单介绍

CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)增强了数据统计功能,数据存储采用回环覆盖方式,避免了新用户使用时出现存储器满的异常。采用了磁性(CT200F)和涡流(CT200N)两种测厚方法,CT200F可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度.


CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)  的详细介绍

CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)

 

CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)  产品概述:

CT200升级版在开发过程中,增强了数据统计功能,数据存储采用回环覆盖方式,避免了新用户使用时出现存储器满的异常。采用了磁性(CT200F)和涡流(CT200N)两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度

CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型) 功能特点

更加方便的数据统计、增加存储量  

任意界面测量

新颖的界面布局 

简洁、经济、实用

增加了涡流功能测厚,实现一机两用

设有五个统计量:平均值(MEAN)、蕞大值(MAX)、蕞小值(MIN)、测试次数(NO.

标准偏差(S.DEV

具有存贮功能:可存贮500个测量值

 

CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)技术参数:

测头类型

CT200F

CT200N

工作原理

磁感应

电涡流

测量范围

0~1250μm

0~1250μm,其中:铜上镀铬(0~40μm

分辨力

0.1μm0~50μm),1微米(>50μm

测量误差

3%H1μmH为测量范围)

示值误差

一点校准(μm

±(3%H+1

±(3%H+1

测试条件

蕞小曲率半径(μm

1.5

3

蕞小面积的直径(μm

Φ7

Φ5

基体临界厚度(㎜)

0.5

0.3

工作电压

3*1.5V

外形尺寸

155*68*27

整机重量

230g

标准配置

主机、探头(FN)、基体(铁或铝)、标准片

 

CT200N氧化膜测厚仪(CT200拓展型)标准配置:

主机、探头(FN)、基体(铁或铝)、标准片、电池、随机文件、仪器箱

 

产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!